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產(chǎn)品中心

  • 可程式高低溫試驗箱

    本可程式高低溫試驗箱用于試驗電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高、低的環(huán)境下存儲、運輸和使用時(shí)的適用性試驗,以評估產(chǎn)品的工作性能,適用于GB/T2423.34-2005(電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程:試驗Z/AD 溫度循環(huán)試驗方法

    更新日期:2024-05-20
    型號:
    廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 杭州奧博可程式高低溫試驗箱廠(chǎng)家

    本杭州奧博可程式高低溫試驗箱廠(chǎng)家適用于GB/T2423.34-2005(電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程:試驗Z/AD 溫度循環(huán)試驗方法:IEC60068,GB、T2423.1-2008GB/T2423.2-2008,制作標準為GB/T5170.18-2005,GB/T10589(低溫試驗箱技術(shù))、GB/T11158(高溫試驗箱技術(shù)條件)

    更新日期:2024-05-21
    型號:
    廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 可程式高低溫試驗箱廠(chǎng)家

    本可程式高低溫試驗箱廠(chǎng)家適用于GB/T2423.34-2005(電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程:試驗Z/AD 溫度循環(huán)試驗方法:IEC60068,GB、T2423.1-2008GB/T2423.2-2008,制作標準為GB/T5170.18-2005,GB/T10589(低溫試驗箱技術(shù))、GB/T11158(高溫試驗箱技術(shù)條件)

    更新日期:2024-05-20
    型號:
    廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
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